Beitrag zur Einzelfunkenauswertung mittels optischer Emissionsspektrometrie (PDA-OES) zur schnellen Charakterisierung des Stahl-Reinheitsgrades
für 48.80€ kaufen ··· 9783844028171 ··· 10361108181 ··· Im Rahmen der vorliegenden Arbeit wurden die Möglichkeiten der funkenspektrometrischen Charakterisierung des Stahlreinheitsgrades untersucht und entsprechende Ansätze und Algorithmen entwickelt. Grundlage der hier dargestellten Ergebnisse ist die Einzelfunkenspektrometrie (PDA-OES), die es erlaubt, die Intensitäten jedes einzelnen Funkenübergangs zur registrieren. Auf diese Weise lassen sich Informationen über Inhomogenitäten (Einschlüsse, Ausscheidungen und Mikroseigerungen) in Stahlproben erhalten. Hierzu stand ein Spektrometer der Firma OBLF im Institut für Eisenhüttenkunde der RWTH Aachen University zur Verfügung. Ergänzend hierzu stand für Industrieversuche ein baugleiches Spektrometer bei der Deutsche Edelstahlwerke GmbH in Siegen zur Verfügung. Die hier dargestellten Ergebnisse zeigen, dass Veränderungen des Reinheitsgrades mit PDA-OES-Messungen darstellbar sind. Hierzu wurde ein PDA-Kennwert (KPDA) ermittelt, welcher es zukünftig ermöglichen könnte, prozesszeitnah und simultan zur etablierten Elementaranalyse den Reinheitsgrad qualitativ zu erfassen. Versuche hierzu wurden sowohl im Labor- als auch im Industriemaßstab durchgeführt. Es wurden auf verschiedenen Stufen des pfannenmetallurgischen Prozesses Talerproben entnommen und untersucht. Ergebnis war die Abbildung der Einschlusshistorie über die entsprechenden Prozessstufen. Ferner wurden Algorithmen entwickelt und erprobt, mit welchen sowohl die Einschlussgrößenverteilung sowie die Einschlusszusammensetzung abgebildet werden können. Beide Ansätze zeigen vielversprechende Ergebnisse und die vielfältigen Einsatzmöglichkeiten der PDA-OES. Ein weiterer Schwerpunkt der Arbeit ist die Umrechnung der spektrometrisch ermittelten Einzelintensitäten in Einzelkonzentrationen, die es erlaubt, Mikroseigerungsphänomene zu untersuchen. Vergleichsuntersuchungen mit Elektronenstrahlmikroanalyse (ESMA) und Mikroseigerungssimulation (DICTRA) indizieren eine hohe Belastbarkeit der Ergebnisse. Die auf Basis dieser Daten berechneten Seigerungskennwerte und Verteilungskoeffizienten liegen ebenfalls in vergleichbaren Größenordnungen wie diejenigen der Elektronenstrahlmikroanalyse. Hersteller: Shaker Verlag Gmbh Marke: Shaker Verlag Gmbh EAN: 9783844028171 Kat: Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Technik/Sonstiges Lieferzeit: Sofort lieferbar Versandkosten: Ab 20¤ Versandkostenfrei in Deutschland Icon: https://www.inforius-bilder.de/bild/?I=smFx28cxV5mm%2FokyivEW3oxR8T%2BcVMfkYWNuaAdSAzU%3D Bild:
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